Descripción del comportamiento de películas plásticas multicapa en procesos de termodeformación mediante análisis de fotoelasticidad digital

Descripción del comportamiento de películas plásticas multicapa en procesos de termodeformación mediante análisis de fotoelasticidad digital

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Cómo citar
Meléndez Lozada, F., Restrepo Martínez, A., & López Giraldo, F. E. (2018). Descripción del comportamiento de películas plásticas multicapa en procesos de termodeformación mediante análisis de fotoelasticidad digital. Revista EIA, 15(30), 99–111. https://doi.org/10.24050/reia.v15i30.1154
PDF FLIP
Publicado: Nov 30, 2018
https://doi.org/10.24050/reia.v15i30.1154
Palabras clave:
Fotoelasticidad Digital
Anfis
Aprendizaje de Color
Visión Artificial
Número
Vol. 15 Núm. 30 (2018)
Sección
Artículos

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Contenido principal del artículo

Fernando Meléndez Lozada
Instituto Tecnológico Metropolitano
Alejandro Restrepo Martínez
UNIVERSIDAD NACIONAL DE COLOMBIA SEDE MEDELLIN
Francisco Eugenio López Giraldo
INSTITUTO TECNOLOGICO METROPOLITANO - ITM

Resumen

El objetivo de este artículo es describir en términos del espesor el comportamiento dinámico de la película plástica multicapa en un proceso de termodeformación bajo dos escenarios de temperatura (T1=20°C, T2=60°C) usando la fotoelasticidad como técnica de no contacto. Los colores de interferencia presentados en las imágenes de fotoelasticidad están asociados al espesor de la película plástica y a través del entrenamiento de un algoritmo de aprendizaje tipo ANFIS se relaciona color con espesor. La red neuro-difusa asocia cada intensidad de color del pixel con un espesor medido, obteniendo a la salida una imagen de espesores en escala de grises. Se concluye que los colores de interferencia están directamente correlacionados con el espesor de la película y la temperatura favorece la deformación permitiendo llegar a espesores menores en menor tiempo.

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Detalles del artículo

Biografía del autor/a (VER)

Alejandro Restrepo Martínez, UNIVERSIDAD NACIONAL DE COLOMBIA SEDE MEDELLIN

Doctorado 

Francisco Eugenio López Giraldo, INSTITUTO TECNOLOGICO METROPOLITANO - ITM

 Doctorado en Física

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